Industry 4.0

智慧製造/品質檢測

「非接觸式和非破壞性」檢查細微結構缺陷

高光譜影像智慧辨識系統為您監督半導體檢測,即時顯示提高生產良率

Semiconductor

半導體檢測

高光譜影像為您監督,即時顯示提高生產良率

為了升級我們專業的客製化產品,我們提供業界完整的設備設計服務。從核心的高光譜影像技術、智慧演算法出發,整合工業相機與鏡頭等元件,提供成本優勢與效能兼具的解決方案,高擴充性的產品與完善的售後服務。
高光譜影像智慧辨識系統應用於半導體晶圓檢測、薄膜檢測,改善良率語大幅提升品質

半導體檢測/薄膜檢測

在現今的半導體領域裡,製程的線寬隨著科技的日新月異愈來愈小,對於晶圓檢測的重要性也愈重要。愈小的「缺陷」在製程中,對於晶圓的影響愈大,我們在檢測中結合高光譜影像技術,能更精準檢測出極小缺陷的存在,改善檢測的良率並大幅提升品質。
高光譜影像智慧辨識系統應用於平面顯示器檢測

平面顯示器檢測

於資訊爆炸的社會,影音資訊傳播最為人們所青睞,手機、平板電腦、電視等媒體、桌上型電腦,更是成為了每個家庭、每個人生活必需的產品,追求更清晰的影像畫面顯示之下,平面顯示器的質量也隨之提高,針對製造過程所產生的亮暗點、壞點的檢測也需更準密,利用高光譜影像技術強化自動化光學檢測的準確度,同時提高生產效益。
高光譜影像智慧辨識系統應用於印刷電路板檢測,降低人力成本

印刷電路板檢測

印刷電路板在積體電路、電子元件裡扮演重要的角色,為了能夠精確的定位出每個元件的位置,在檢測階段必須更加確實;因此,對於檢測的要求也越是困難,利用高光譜影像技術檢測,能優化其品質及增強缺陷檢測能力,有效降低人工複檢所耗費的人力成本。
延伸閱讀高光譜影像智慧檢測,讓你的機器視覺更加卓越

高光譜視覺檢測解決方案

可客製化設計的產品
AOI自動光學檢測設備 PCB檢測設備
晶圓檢測設備 LCD 檢測設備
TFT-LCD 檢測設備 Touch Panel 檢測設備
Mura 瑕疵檢測設備 IC 封裝測試檢測設備
外觀檢測設備
(有無檢測、異物、毛邊、裂痕..等缺陷檢查)